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TY10阻抗分析仪IM3570ZX21

TY10

阻抗分析仪IM3570

ZX21
阻抗分析仪IM3570
订 货 号:zy380146 品    牌:日本日置HIOKI 产    地:日本 市 场 价: 折 扣 价: 发货周期:现货或5天内
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产品描述技术方案相关仪器最新上架商品咨询使用评价
阻抗分析仪IM3570特点
1.不同测量条件下,1台进行高速测量
测量电容等零部件时,有时在不同条件下(频率、电平)测量多种测量项目,1条生产线中需要多台测量仪器。IM3570可再不同测量条件下进行高速连续测量,1台仪器即可满足所有要求。
2. 检查速度提高了2(跟以往型号相比)
和HIOKI的以往型号(3532-50)相比,大大缩短了测量时间。LCR模式下,以往机型一般需要5ms的测量时间,而IM3570的检查速度提高了2倍。需要全数检查电子零部件的生产线中,IM3570发挥了作用。
3. 测量的反复精度提高了1(1mΩ100次测量时)
功能性高分子电容在推进低ESR化的同时,要求正确测量多个mΩ。IM3570在测量低阻抗时的精度比以往机型提高了1位,因此为用户提供稳定测量。
4. 广范围的测量频率
IM3570可在DC和4Hz~5Hz的范围内设置5位分辨率的频带(1kHz以下为0.01Hz分辨率)。可在接近共振频率的测量和工作条件的状态下进行测量和评价。
5. 15种测量参数
可测量Z、Y等15种参数,并将需要的参数读取至计算机中。
6. 具备防止误操作的接触检查功能
装载了4端子测量、2端子测量的接触检查功能。防止在测量电极不接触被测物的状态下测量的情况,因此可以避免出现未检查的产品出厂。
7. 广范围的测量电压/电流
外加一般的开路信号发生,可在恒压/恒流模式下进行考虑到电压/电流依存性的测量。可设置广范围的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的测量信号电平。
8. 测试线可延长至4m
4端子的构造可降低测试线的影响,测试线长达4m仍可保证精度。从而便于自动设备的配线。
阻抗分析仪IM3570技术参数
测量模式 LCR模式:单一条件下测量
分析仪模式:
根据测量频率、测量电平进行扫描
(测量点:1~801,扫描方法:一般扫描/分区扫描,显示:列表显示/图表显示)
连续测量模式:
连续测量保存的条件(最多32个)
测量参数 Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
测量量程 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数都根据Z来确定)
基本精度 Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
测量频率 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)
测量信号电平 普通模式:
V模式、CV模式:5mV~5Vrms(1MHz以下),
10mV~1Vrms(1MHz~5MHz),1mVrms步进
CC模式:10μA~50mArms(1MHz以下)
10μA~10mArms(1MHz~5MHz),10μArms步进
低阻抗高精度模式:
V模式、CV模式:5mV~1Vrms(100kHz以下),
1mVrms步进
CC模式:10μA~100mArms(100kHz以下的100mΩ和1Ω量程),
10μArms步进
输出阻抗 普通模式:100Ω
低阻抗高精度模式:10Ω
显示 彩色TFT5.7英寸,可设置显示开或关
显示位数设置 可设置3~7位的显示位数,初始值为6位
测量时间 0.5ms(100kHz、FAST、显示关,代表值)
测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
DC偏压测量 普通模式:DC0V~2.50V(10mV步进)
低阻抗高精度模式:DC0V~1.00V(10mV步进)
直流电阻测量 普通模式:测量信号电平
DC100mV~2.5V(10mV步进)
低阻抗高精度模式:测量信号电平
DC100mV~1.00V(10mV步进)
比较器 LCR模式:第1、第3项目的Hi/IN/Lo
分析模式:
区域判断(各点的Hi/IN/Lo)、
峰值判断(极大、极小的频率和绝对值的Hi/IN/Lo)
存储功能 主机可保存32000个数据
接口 EXT I/O(hler)
RS-232C
GP-IB
USB(Hi-Speed/Full-Speed)
U盘
LAN(10BASE-T/100BASE-TX)
电源 AC90~264V,50/60Hz,最大150VA
体积和质量 约330W×119H×307Dmm,约5.8kg

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阻抗分析仪IM3570

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5.我们为阁下提供保修TY10阻抗分析仪IM3570售后维修服务,提供后期技术支持.
6.阁下对TY10阻抗分析仪IM3570使用方法等有需求时,将为阁下找到阻抗分析仪IM3570说明书.
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