AFS-820型 原子荧光光度计

集成了四项专利技术：

◇ 用于氢化物发生法的间歇泵进样装置
专利号：ZL 2003 2 0100041.5

◇ 去除水蒸气装置
专利号：ZL02 2 85169.0

◇ 化学气相发生气液分离装置
专利号：ZL 2005 2 0001620.3

◇ 氢化物发生原子荧光测量尾气中有害元素的捕集阱装置
专利号：ZL 2005 2 0110557.7
 

仪器主要特点：

◇ 双道可同时测定双元素，并适用并适用于As、Sb、Bi、Hg、Se、Te、Sn、Ge、Pb、Zn、Cd、Au元素的痕量监测；
◇ 内置式间歇泵进样系统；
◇ 光源采用集束式脉冲供电方式；
◇ 全密闭无色散调光系统；
◇ 低温自动点燃氩—氢火焰，屏蔽式石英原子化器；
◇ 具备化学气相发生气液分离装置；
◇ 开机自检，气路自动控制、自动保护、自动报警；
◇ 仪器具有断电保护功能；
◇ 具备原子荧光检测尾气中有害元素捕集阱装置；
◇ 可配接130位10毫升或78位25毫升自动进样器；
◇ 功能强大的中英文软件操作系统，可实现自动系统诊断、自动样品测量、标准曲线测量，多种报告格式，并备存专家帮助系统，推荐最佳仪器条件和优选方法，及样品预处理、标液配置等指南；
◇ 支持多工作曲线，实现全面数据切换支持复制、粘贴和图形存储；
◇ 标准的RS—232/485通讯。

独特的可升级功能模块：
◇ 主机配自动进样器即可实现全自动分析；
◇ 配形态分析部件和相关操作系统，即可进行As、Se、Hg、Sb等元素的形态分析；
◇ 配专用气态汞检测装置，可实现空气中超痕量汞的测定；
◇ 配专用水中超痕量汞检测装置，可检测海水、地表水中超痕量汞（检出限≤0.0002μg/L）；
◇ 配直接进样测镉装置，可直接检测固体、液体样品中的镉，无需样品前处理；
◇ 配直接进样测汞装置，可直接检测固体、液体样品中的汞，无需样品前处理；
◇ 配直接进样测汞镉同测装置，可同时直接检测固体、液体样品中的汞和镉，无需样品前处理。