IM7585阻抗分析仪IM7583

HIOKI这次将发售阻抗分析仪IM7583和IM7585。 在信息化的现在社会中，智能手机等移动设备通过LTE、Wi-Fi、GPS等，向高频化发展，而且该带宽达到了数GHz。随之，移动设备中所使用的高频感应器和铁氧体磁珠等电子元件也向高频化发展。这些电子元件从按照数百MHz到1GHz的高频来进行出厂检查，所以对于高频测量仪器的需求也日益增加。 这次将发售的2种机型，可以测量超过去年发售的IM7580（最高300MHz的高频测量）进行更高的频率测量。IM7583的测量频率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz，可以满足高频化的各种电子元件产品。 而且，IM7583、IM7585两种机型通过最短0.5ms（0.0005秒）的高速测量，能够快速的检查大量电子元件，从而提高电子元件厂商的生产效率。

主要用途

电子元件厂商的电子元件的出货检查 电子仪器厂家的电子元件的入库检查和特性评估

产品特点

IM7583最高600MHz、IM7585最高1.3GHz的高频测量 IM7583的测量频率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz。这大大的高于去年发售的IM7580的测量频率（1MHz~300MHz）。 单一频率测量的LCR测试仪的模式的话，可用于判断出货检查的合格与否，频率变化同时进行测量的阻抗分析仪的模式的话 ，产品开发的特性评估和其他领域中。   最快0.5ms的高速测量和高稳定性的测量，有助于提高生产效率 最快0.5ms（0.0005秒）的高速测量。这样，对于需要快速检查大量电子元件的电子元件厂商来说可以大幅提高生产效率。 而且，IM7585的反复测量精度是0.07%（1GHz时的代表值），因此实现了稳定测量，提高生产的成品率，从而提高生产效率。   主机尺寸小巧化，有助于降低生产成本 在电子元件厂商的生产线中，各种设备安装在机架中组成检查系统，并进行自动检查。因此，和去年发售的IM7580相同通过将将主机大小小型化，缩小检查系统的体积，并通过多台组合能够缩短检查时间，并降低生产成本。   各种各样的判断功能，判断合格与否 单一的频率测量的LCR测试仪的模式的话，具备判断电子元件的合格与否的比较器功能以及将电子元件排序的BIN功能。比较其功能克设置上下限值，并以此为判断标准来判断是否合格。相对于比较器功能的按照判断标准判断是否合格，BIN功能则能设置最多10种判断标准，并进行排名。 在多种频率下测量的分析仪的模式的话，包括从电子元件的频率特性中可判断合格与否的区间判断、峰值判断。区间判断是为了确认测量值是否进入任意设置的判断区域内的功能。峰值判断是判断共振点的功能。 另外，还全新搭载了任意设置多种频率，并按照这个设置值判断合格与否的目标判断功能。

基本参数

基本精度 Z：0.65%rdg.θ：0.38（代表值） 测量时间 最短0.5ms（模拟测量时间） 测量范围 100mΩ～5kΩ 测量频率 IM7583：1MHz～600MHz　　IM7585：1MHz～1.3GHz 测量信号电平 -40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）

HIOKI（日置電機株式会社：長野県上田市、代表取締役社長：町田正信）はこのたびインピーダンスアナライザIM7583とIM7585を発売いたします。
　情報化社会が進む現在、スマートフォンなどのモバイル機器はLTE、Wi-Fi、GPSなどに対応することで、高周波化が進み、その帯域は数GHz（ギガヘルツ）にも達しています。これに伴い、モバイル機器に使用される高周波インダクタやフェライトビーズといった電子部品も高周波化が進んでいます。これらの電子部品は数百MHz（メガヘルツ）から1GHｚといった高い周波数で出荷検査をしているため、高周波の測定器のニーズが高まっていました。
　このたび発売する2機種は、昨年発売したIM7580（最高300MHｚの高周波測定が可能）を上回る高周波測定が可能です。IM7583の測定周波数は1MHｚ～600MHzまで、IM7585は1MHｚ～1.3GHｚまでとなっており、高周波化が進む電子部品に対応した製品となっています。
　また、IM7583、IM7585の両機種は最短0.5ms（0.0005秒）の高速測定によって大量の電子部品を速く検査することができ、電子部品メーカーは生産性を向上させることができます。

■主な用途
　電子部品メーカーにおける電子部品の出荷検査
　電子機器メーカーにおける電子部品の受け入れ検査や特性評価

■製品の特長
1.IM7583は最高600MHｚ、IM7585は最高1.3GHｚまでの高周波測定が可能に
　IM7583の測定周波数は1MHｚから600MHｚで、IM7585は1MHzから1.3GHｚです。これは、昨年発売したIM7580の測定周波数（1MHｚ～300MHｚ）を大きく上回ります。
　単一周波数で測定するLCRメータのモードでは出荷検査の良否判定、周波数を変化させながら測定するアナライザのモードでは製品開発での特性評価と様々な分野で使用することができます。
2.最短0.5msの高速測定かつ高安定の測定で生産性の向上に貢献
　最短0.5ms（0.0005秒）の高速測定が可能です。これにより、大量の電子部品を速く検査したい電子部品メーカーにとって、生産性が大きく向上します。
　また、測定の繰り返し精度もIM7585で0.07% （1GHｚの場合の代表値）となっているので、安定した測定が可能になり、生産の歩留まりが改善され、生産性が向上します。
3.本体サイズの小型化により、生産コストの低減に貢献
　電子部品メーカーの生産ラインにおいては、各種機器をラックに収めて検査システムを作り、自動検査を行なっています。そのため、昨年発売したIM7580と同様に本体サイズを小型にすることで、検査システムを小型にしたり、複数台の搭載によって検査時間を短縮したりすることが可能となり、生産コストを低減することができます。
4.さまざまな判定機能による良否判定
　単一の周波数で測定するLCRメータのモードでは、電子部品の良否判定をするコンパレータ機能、電子部品を選別するBIN機能があります。コンパレータ機能は上下限値を設定し、この判定基準をもとに良否判定をします。コンパレータ機能では一つの判定基準で良否を判定するのに対して、BIN機能は最大10の判定基準を設け、ランク分けします。
　複数周波数で測定するアナライザのモードでは、電子部品の周波数特性から良否判定をすることができるエリア判定、ピーク判定があります。エリア判定は、任意で設定した判定エリアに測定値が入っているかを確認するための機能です。ピーク判定は、共振点を判定する機能です。
　さらに、複数の周波数を任意で設定し、この設定値に基づき良否判定をするスポット判定機能を新たに搭載しました。

■基本仕様
　基本確度　　Z：0.65%rdg.θ：0.38(代表値)
　測定時間　　最短0.5ms（アナログ計測時間）
　測定範囲　　100mΩ～5kΩ
　測定周波数　　IM7583：1MHz～600MHz　　IM7585：1MHz～1.3GHz
　測定信号レベル　　-40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）

■年間販売目標台数
　100台

■価格
　インピーダンスアナライザIM7583：1,700,000円（税抜）
　インピーダンスアナライザIM7585：2,300,000円（税抜）
　

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