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北京中仪提供方块电阻测试仪使用方法，满足你不同地点的使用需求。
·本产品依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计，专门测量半导体方块电阻(或称薄层电阻、面电阻，单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻
·该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点
·采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定
·以大屏幕LCD显示读数，直观清晰
·采用单个干电池供电，带电池欠压指示
·体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g
·轻便手持式设计操作、测试简便
·特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
·带探头与被测物质接触良好指示(LED) 、探头带抗静电模块
·单电源开关，推拉式探头-主机接插件，操作极其简便
| 测量范围 | 按方块电阻量值大小分为二个量程档：1.00～199.99Ω/□和10.0～1999.9Ω/□ |
| 恒流源测量过程误差 | ≤±0.8% |
| 模数转换器量程 | 0～199.99mv，分辨率10μv |
| 方式 | LCD大屏幕显示，极性，超量程均自动显示，小数点同步显示 |
| 测量不确定度 | 在整个量程范围内，测量不确定度≤5% |
| 四探针头间距 | 1mm或3.8mm可选，偏差≤2% |
| 针间绝缘电阻 | ≥500MΩ |
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