北京中仪 提供四探针测试仪（手持式）使用方法，满足你不同地点的使用需求。
·运用四探针测量原理的多用途综合测量设备,该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器
·仪器采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用
·本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试
作为国产的代理商，北京中仪 以其优良的品质和服务为您提供最优惠的产品价格。
| 电阻率 | 0.01～1999.9Ω.cm |
| 方块电阻 | 0.1～19999Ω/□ |
| 恒流源电流量程 | 100μA、1mA两档，两档电流连续可调 |
| 数字电压表量程及表示形式 | 00.00～199.99mV |
| 分辨力 | 10μV |
| 输入阻抗 | >1000MΩ |
| 精度 | ±0.1% |
| 显示 | 以大屏幕LCD显示读数，直观清晰，极性、超量程自动显示 |
| 间距 | 1±0.01mm |
| 针间绝缘电阻 | ≥1000MΩ |
| 机械游移率 | ≤0.3% |
| 探针 | 碳化钨或高速钢Ф0.5mm |
| 探针压力 | 5～16 牛顿(总力)，四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证) 模拟电阻测量相对误差( 按JJG508-87进行) |
| 整机测量最大相对误差 (用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试) | ≤±5% |
| 整机测量标准不确定度 | ≤5% |
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