产品描述：
霍梅尔-艾达米克 T8000 SC
同时测量粗糙度和轮廓案件
T8000 SC 测量仪配置了分辨度极高的探测系统，同时测量粗糙度和轮廓，几何参数以及粗糙度特征数据在一个流程中评价。
此测量系统性价比出色，测量功能和应用范围完全可以和复杂的试验室测量系统媲美。
技术亮点
- 分辨率高超出众，6mm 测量范围的分辨率是 6nm
- 仅在一个测量范围内便具备完整的分辨率
- 探测力可调
- 测头电动下降/抬起，所以测量流程自动
- 采用模块化结构，可按需求拓展
霍梅尔-艾达米克 T8000 SC 测量仪一览
- 粗糙度和轮廓共用一个探测系统
- 可测量斜面和曲面的粗糙度
- 测量范围大，所以测量系统不再需要相对工件表面的定位过程
- 磁性测头臂支架，保证了测头臂的更换迅速、可靠
- 用于评价粗糙度和轮廓参数的软件功能广泛
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供货范围
- 带19“ TFT显示屏的分析电脑，彩色打印机, CD/DVD刻录器，粗糙度和轮廓的分析软件
- 带自动探测功能的电动wavelift 400测量立柱
- waveline 120 advanced进给装置附带增量光栅尺
- 进给装置的倾斜和紧固单元粗回转范围±45°，精回转范围±5°
- 带10mm T槽的硬岩石板
- wavecontour surfscan 测头，含带金刚石探头和红宝石探头的两个测头臂
- RNDH2粗糙度标准块
- 校准用附件一套
- 用于紧固工件的测量台 MT1 XYO
技术参数：
本月特价
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