3504-50C测试仪3504-60性能特点
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 |
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- 高速测量2ms
- 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
- 对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能
- 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
- 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
- 查出全机测量中的接触错误,提高成品率
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输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件
测量参数 |
Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ) |
测量范围 |
C:0.9400pF~20.0000mF D:0.00001~1.99000 |
基本确度 |
(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数 |
测量频率 |
120Hz, 1kHz |
测量信号电平 |
恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz) |
输出电阻 |
5Ω(开路端子电压模式,上述测量范围以外) |
显示 |
发光二级管 (6行表示,满量程计算器根据量程而定) |
测量时间 |
典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST) ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
机能 |
4端子控制检测功能(仅限3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-C抑制功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外) |
电源 |
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大110VA |
体积及重量 |
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
附件 |
电源线×1,预备电源保险丝×1,接地适配器×1 |
不能单独使用,测量时需要选用测试冶具及探头:
SMD测试冶具 9699,底部 SMD电极操作频率:DC~120MHz测量对象尺寸:W:1.0~4.0mm H:1.5mm
SMD测试冶具 9677,侧面 SMD 电极操作频率:DC~120MHz 测量对象尺寸:3.5±0.5mm
SMD测试冶具 9263,DC~5 MHz, 直结型
测试冶具 9262,DC~5 MHz, 直结型
测试冶具 9261,DC~5 MHz, 1 m
针型测试探头 9143,DC~5 MHz, 1 m
4端子测试探头 9140,DC~100 kHz, 1 m GP-IB连接电缆 9151-02 2m 长
打印机 9442,电源转换器 9443-02,连接电缆 9444适用于9442, 线长:1.5 m,记录纸 1196 | |